プロフィール

専門分野

　電子部品の信頼性評価や寿命末期の安全性評価を専門に技術開発しています

　・信頼性評価分野は個別電子部品の耐用寿命の推定や回路の故障率および耐用寿命の推定など

　・寿命末期の安全性評価分野では電子回路の寿命末期時に不安全になる部品の推定と不安全モードになるストレス印加の方法など

・1977年 3月：長崎大学工学部　材料工学科卒業

・1977年 4月：松下電工㈱入社　綜合技術研究所配属

　　⇒ﾌﾞﾚｰｶ用ﾊﾞｲﾒﾀﾙ周辺の熱解析やｱｰｸ放電現象の研究

・1991年 6月：綜合技術研究所評価技術研究所　主査技師

　　⇒リレーの接触信頼性研究

・2003-12年：解析センター　　　　主査、主幹技師

　　⇒電子回路搭載電子部品の信頼性研究

・2012年09月：大阪大学大学院工学研究科　招聘教員

・2014年11月：パナソニック㈱　退職

・2015年 6月：M.A信頼性技術オフィス　設立

・2017年 9月：JAXA社外検討有識者委員

・2008年：最適加速試験項目の選択と試験条件(三菱電機松岡氏共著）/日本信頼性学会

・2009年：確率紙を使った特性値の分布調査(三菱電機松岡氏共著）　/日本信頼性学会

・2010年：前兆現象による故障の発生予測（共著）　　　/日本信頼性学会

・2010年：高信頼性を実現するセットメーカの試験解析/第40回信頼性・保全性ｼﾝﾎﾟｼﾞｳﾑ

・2013年：電子機器の安全性評価と寿命予測　　　　 /第43回信頼性・保全性ｼﾝﾎﾟｼﾞｳﾑ

・1986年　：米国継電器工業会　第2位受賞

・1989年：日本電機工業会　技術功労者　発達賞

・1997年：日本信頼性学会　奨励賞　

・2009年：日本信頼性学会　優秀記事コラム賞

・2010年：信頼性・保全性シンポジウム　特別賞

・1999年：品質工学応用講座「電子・電気の技術開発」/日本規格協会

・2009年：電気化学測定と解析テクニック事例集 /㈱情報機構

・2009年：高分子材料の劣化と寿命予測　 /Ｓ＆Ｔ㈱

・2011年：電子機器技術者のための新しい高信頼性技術と管理手法/日刊工業新聞社

・2011年：高機能フィルムの最新技術と用途展開 /㈱大成社

・2012年：ﾊﾞｯﾃﾘｰ/ﾊﾟﾜｰﾃﾞﾊﾞｲｽ/ﾓｼﾞｭｰﾙの信頼性加速試験と故障予測/㈱技術情報協会

・2014年：ﾌﾟﾗｽﾁｯｸの割れ(ｸﾗｯｸ)･破壊ﾄﾗﾌﾞﾙと対応・解析技術/㈱情報機構

・2014年：コンデンサの故障・信頼性・トラブル対策★徹底解説/㈱電子ｼﾞｬｰﾅﾙ